双联电位器的可靠性研究
双联电位器的可靠性研究
当双联电位器旋转时可出现四种状态：即引脚3与引脚1相连，引脚3与引脚2及引脚1全相连；引脚3与引脚2相连，引脚3与引脚2及引脚1全断开。
在实际使用中，一般将引脚3接地作为数据输入端。而引脚1、2作为可靠性,研究数据输出端与单片机I/O 口相连。如图2中所示，将引脚1与单片机的P1.0相连，引脚2与单片机的P1.1相连。当双联电位器左旋或右旋时，P1.0和P1.1就会周期性地双联电位器产生图1所示的波形，如果是12点的双联电位器旋转一圈就会产生12组这样的波形，24点的双联电位器就会产生24组这样的波形
元器件可靠性问题
元器件可靠性问题即基本失效率的问题，这是一种随机性质的失效，与质量问题的区别是元器件的失效率取决于工作应力水平。在一定的应力水平下，元器件的失效率会大大下降。为剔除不符合使用要求的元器件，包括电参数可靠性,研究不合格、密封性能不合格、外观不合格、稳定性差、早期失效等，应进行筛选试验，这是可靠性,研究一种非破坏性试验。通过筛选可使元器件失效率降低1～2个数量级，当然筛选试验代价(时间与费用)很大，但综合维修、后勤保障、整架双联电位器联试等还是合算的，研制周期也不会延长。电源设备主要元器件的筛选试验一般要求：
①电阻在室温下按技术条件进行100％测试，剔除不合格品。
②普通电容器在室温下按技术条件进行100％测试，剔除不合格品。
③接插件按技术条件抽样检测各种参数。
④半导体器件按以下程序进行筛选：
目检初测高温贮存高低温冲击电功率可靠性,研究老化高温测试低温测试常温测试
筛选结束后应计算剔除率Q 式中：N——受试样品总数；n——被剔除的样品数；
如果Q超过标准规定的上限值，则本批元器件全部不准上机，并按有关规定处理。
在符合标准规定时，则将筛选合格的元器件打漆点标注，然后入专用库房供装机使用。
