National Instruments设计了24位delta-sigma模数转换器(ADC)用于许多高性能的数据采集(DAQ)设备,其中就包括NISC Express系列产品,它集成了信号调理功能可以直接测量传感器。同时,基于Delta-sigma ADC采用的噪声整形和滤波技术,可以为高分辨率测量提供最高的测试精度。本文将介绍delta-sigma ADC的体系结构和SC Express用软件对滤波延迟进行自动补偿的方法。
Delta-Sigma ADC体系结构
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图1: delta-sigma (Δ -∑ ) ADC由积分器、比较器和1位DAC组成。
Delta-sigma ADC(也称为sigma-delta)的硬件体系结构包含积分器、比较器和1位数模转换器(DAC),如图1所示按序排列在一个负反馈循环中。将输入信号和取反的DAC输出相加馈入积分器电路。积分器的输出是一个斜坡信号,该信号的斜率与积分器的输入信号幅度成正比。积分器输出与比较器参考信号进行比较,产生0或1。比较器的二进制输出基于ADC过采样时钟Foversamp送入数字抽取滤波器。每个位代表积分的斜坡输出相对于比较器参考的方向,多次循环之后,位流代表输入信号的量化数值。实际上,反馈循环让DAC的平均输出匹配输入信号。数字抽取滤波器将位流进行平均,输出期望采样速率Fs下的n位采样。
Delta-Sigma与其他转换器技术有什么区别?Delta-sigma ADC与众不同之处在于它将过采样、抽取滤波以及量化噪声整形三项技术结合在一起使用。
过采样Delta-sigma ADC使用了更高的采样速率,这个采样率是给定信号所需采样速率的许多倍,比如128倍。例如,要对25 kHz信号进行采样,采样速率要求高于奈奎斯特速率(即> 50 KHz)。但是,delta-sigma ADC使用128作为过采样系数,对信号以6 MHz进行采样。这种技术具有多个优点,例如具有更好的抗混叠性能和更高的分辨率。
频域上,对信号采样实际上是使用采样频率Fs倍数的载波频率对输入信号谱进行调制(即0、Fs、2Fs、3 Fs等等)。为了确保这些经调制的输入信号谱之间不互相重叠,导致混叠,采样速率必须大于信号包含最高频率的两倍(即2Fmax),这就是奈奎斯特速率。相反,如果输入信号具有高于Fs/2(也称为奈奎斯特频率)的频率成分,这些成分将进入欠奈奎斯特频率区域,在混叠部分检测出感兴趣的信号尤为困难。混叠效应表现为噪声和信号失真。
为了抗混叠,在ADC采样之前,需要对高于奈奎斯特频率的成分进行衰减,数据采集设备的模拟前端通常使用模拟低通滤波器。对这些滤波器往往有严格的要求,比如具备砖墙特性,包括快速衰减、平稳通带等。由于这些严格的要求以及必须用模拟电路实现,滤波器设计相当困难,并且制造成本高昂。
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图2:过采样技术放宽了对模拟抗混叠滤波器的要求。
Delta-sigma ADC通过对信号进行过采样,放宽了对模拟抗混叠滤波器的要求,如图2所示。通过过采样,输入信号谱的调制部分在频域中被进一步分离,允许滤波器具有较缓慢的截止特性,从而降低了模拟抗混叠滤波器的设计难度。Delta-sigma ADC主要由数字电路组成,从而可以用硅实现,极大地发挥超大规模集成电路VLSI技术的优势。
数字抽取滤波