EMC静电放电测试与预防措施
摘要:本文先引用EMC标准IEC61000-4-2中静电放电测试标准中的测试要求，测试原理，测试方法，再介绍常见的产品标准中对电子产品的静电放电要求主要讲的是静电放电对电子产品的影响，以及一些基本的静电放电抗扰度的预防措施...
1引言
在真实生活中，静电是由多种原因产生的，例如薄膜和卷筒之问的摩擦，胶带的分离，物体破损，或者带电的粒子。静电会在各种情景，各种生产设备的各种流程中产生，而主要产生的原因就是重复的摩擦和分离。当电荷累积到一定程度，物体问就会存在电势差，接触或者相互;;::近过程会产生电荷瞬问移动，就会形成静电放电。静电放电经常会影响我们日常所用的电子产品的正常工作，甚至造成静电故障。主要是静电放电的过程是电荷移动的现象，既然有电荷的移动就有可能影响到电子产品的元器件的正常工作，特别是现代基本都是半导体工艺元器件。严重时还可能会造成元器件的损坏，静电故障就是由静电造成电子元件 (例如1C集成电路))损坏的一种现象。当1C中发生静电故障时，由于静电释放，高压电流瞬问穿过1C内部，破坏了高绝缘性二氧化硅(绝缘层)并损坏内部电路。所以在设计、生产电子产品的时候就应该考虑静电放电的影响。
为了模仿电子产品在现实环境中可能遭受的静电放电影响，国际标准委员会制订了相关的标准规范，斤民多国家或者地区都会自接采用这些标准作为本国或本地区的标准规范。特别是欧洲，凡是进入欧盟市场的电子电器产品必须符介EM(指令((2004/108/EC)要求，静电放电是EM(试验之一。
2国际标准的静电放电测试要求
在国际标准委员会制订的电磁兼容标准中，包括有基础标准和产品标准。其中静电放电测试标准是基础标准之一，有时候也叫测试技术标准。静电放电测试标准1EC61000- 4- 2讲述了测试原理、等级、方法等几个方而的内容。1EC61000- 4- 2定义了四个标准测试等级和一个开放等级见表1。放电测试发生器的电路结构、参数见表2及放电波形如图1所示。然后是介绍了静电放电测试布置和测试方法，1EC61000- 4- 2使用了两种小同的测试方法:一种是接触放电。intact discharge，是自接对EUT放电这是首选的测试方法，如果接触放电小能被施加到EUT，接触放电还有问接接触放电即对水平祸介板HCP和垂自祸介板VCP放电测试模式图2，另外一种方法空气放电Air discharge可以使用，其实一般产品标准要求的抗扰度静电放电测试都要求两种方法进行测试。1EC61000- 4- 2典型测试布置图如图3所示。
C级判定((Criterion C):指产品功能在测试前可正常被操作，但测试过程中受ESD放电影响，出现功能降低或异常，且功能无法自动回复，必须经由操作人员做重置(Re- set)或重开相L的动做才能回复功能，这情形则仅符介C级判定结果。
D级判定((Criterion功:指产品功能在测试前可正常被操作，但测试过程中出现异常，虽经由操作人员做重置(Re- set)或重开机也小能回复功能，这种情况大概产品已损伤严重，仅符介D级判定结果。(这属小介格)。
依lEC61000- 4- 2法规建议，产品采购验证必须符介A级或B级的判定才能接受，C级和D级判定是小介格的。
