汽车电子的测试挑战和策略 (1)
读者们一定与我有同感，现在的汽车比从前复杂得多了，特别是从电子设备的角度来看。当您今天坐在驾驶室里的时候，会发现您的周围充满了各式各样的显示器，那情景简直比的上10年前的喷气式战斗机驾驶舱。利用语音识别系统，您可以选择播放哪一首音乐，寻找匹萨店，或是打电话问候一下姑姑。当您踩下刹车踏板，汽车总是自己做了合适的姿态调节，不再需要您自己去努力调整。现在汽车上的电子系统已经不再是什么高高再上的精密设备，它们已经深入到了汽车的各种控制设备内部。
SAE(汽车工程师社区)预测，到2010年，汽车中的电子设备平均将占到总价格的40%！以美元为单位，2008年独立半导体器件的销售额约为200亿(源自Databeans公司的市场调查)。这一数字因为众所周知的原因在2009年将有所下降，但这是暂时性的，因为汽车里面已经再也不能没有电子设备了。喷射系统，燃油控制，导航，安全系统全部在由电子设备控制。
所以，作为测试工程师，我们该如何处理下一代电子控制单元(ElectronicControlUnit，ECU)装配之前的复杂测试呢？什么样的测试系统——我要强调的是“系统”，没有任何单一的ATE平台能够完成所有的测试工作——是最合适的。在这篇短文中，我将努力使您更加了解各种应用与测试策略。至少我希望帮助您理清思路，这样您可以更加准确地向系统集成商和/或ATE供应商提问，并帮助您作出正确的选择。
产品开发
当然，所有新设计的产品在发布之前都要经过验证与测试。在实验室测试策略中HILs(HardwareIntheLoop)越发显得重要。一般来讲，这是主要用于测试ECU在遇到外部故障情况时的响应，一般故障包括：丢失信号，短路到地或Vbat，或是错误数据。在ATE行业中通常选择故障注入开关系统(FaultInsertionsswitchingsystem)实现这种测试。有几家公司提供我上面提到的故障生成/注入的硬件设备。因为在汽车中ECU的安全性至关重要，所以高水平的此类测试也同样非常重要。
