业内第一台PXI矢量网络分析仪介绍
全新的PXIExpress（PXIe）RF仪器为您的自动化设计验证和生产测试系统增添矢量网络分析功能。
NI公司在2002年推出其第一台RF矢量信号分析仪（VSA）之后,一直致力于为客户提供快速、灵活、精确的PXI仪器,而且其成本仅是传统箱型仪器的几分之一。现如今,NI的RF系列产品已经发展壮大,包括多通道RF信号发生器和分析仪、USB功率计、PXIRF调制模块,并开发了许多的软件工具包,用以支持不断增加的各种无线标准。
图1.业内第一台PXIVNA,6GHz的NIPXIe-5630
今年,NI的PXIRF系列产品又增添了一个新成员,NIPXIe-5630矢量网络分析仪（VNA）。如图1所示,NIPXIe-5630是6GHz的双通道VNA,支持传输和反射（T/R）系数的矢量测量,也就是正向S参数S11和S21。全新的VNA具有10MHz到6GHz的频率范围,超过110dB的宽动态范围,不超过400μs/点（扫描3201个点）的扫描时间,是进行自动化设计验证和生产测试的理想工具。而且,NIPXIe-5630VNA的架构灵活,体积小巧,可以方便地添加到设计验证和生产线测试系统中,这是体积大、成本高的传统VNA所无法比拟的。PXI平台的优势,结合灵活的、经过多核处理优化的LabVIEWAPI,可以方便地实现多个RF元件的并行测试。
描述RF元件特性需要特殊的仪器
为了获得更高的无线数据传输速率,而且不增加功耗或占用频宽,就需要特别注意RF元件的设计、特性和终端测试。复杂的调制电路严重依赖于对RF信号振幅和相位细微变化的成功检测,这使得信号链中的每个元件从基频到RF都要满足严格的要求。
VNA最常用的功能之一就是量化两个元件的阻抗不匹配。每次RF信号离开一个元件进入另一个元件时,信号的一部分都会被反射回来。就像你透过窗户往外看,大部分光透过窗户,使得外面的人可以看到你,但你也可以在窗户里看到自己的影像,这是因为光的一部分被反射了回来。在RF系统中,这种反射转换为能量损失,从而导致更高的功耗、不必要的热和失真。
