综合仪器方法解决棘手的系统级测试
当今的电子器件和产品在以比以往更快的速度发展，在许多商业应用中，从设计到生产的生命周期缩短到仅有6个月。另外，设备内含和拓扑正从单一向多功能器件转化进而涉及整个子系统和系统，并常常作为单一方案(例如智能电话和iPhone那样的设备)。
进一步，直接软件控制和设备配设对多载频功放(MCPA)和软件定义无线(SDR)来说已是家常便饭。且类似RFIC那样的器件只能在混合信号环境下工作和测试，且常常要在实时条件下进行。
当考虑到所有这些因素时，可测试及可制造方案的理想设计(DFT&M)特性和要求被快速呈现出来。“综合”仪器可容易地提供和满足这些特性和要求。与静态堆架式(rack-and-stack)测试系统不同，综合仪器可相当简单地与被测试设备(DUT)系统地和谐共进。
什么是综合测试？
传统测试系统供应商将各种台式测试仪器或专用仪器模块通过合适的互连电缆将它们嵌装在一个架构内，然后用连接器将这些仪器与被测产品连在一起。然后，他们加入调用内置在这些仪器内功能的软件。对测试系统开发来说，“堆架式”是这种方法的一个更常用叫法。目前使用的传统仪器有：示波器、数字万用表、频谱分析仪和频率计数器等，它们或是单台独立系统或作为整个测试系统一部分。
综合仪器通过将软件应用编程接口(API)和测试算法、硬件模块以及基于核心仪器化功能构造块的系统级校准软件结合起来的方法将激励和传统仪器中的测量能力“综合”在一起。综合仪器的概念根源于雷达和EW发射和接收器、SDR、移动/手持设备和电话、无线基础建构、器件和子系统以及其它目前设计和安装的通信系统背后普遍采用的支撑技术。
综合架构还强化了测试系统的升级以及系统地处理老旧问题的能力。当需要升级或有老旧问题需要处理时，只需直接增加或替换涉及的功能块即可，而不是整组仪器或相应的测量和测试应用。它减低了处理陈旧仪器的成本还减小了伴随该设备更新所带来的技术风险。
借助综合系统，一个组织可生成各种信号类型，包括：数字、模拟、RF和微波。它是采用模块化硬件、系统软件和模块化测量及应用软件来实现的。综合系统架构具有单独/整体探究硬件、测量和应用性能的独特能力。独立于硬件的软件测量库还规避了硬件性能进化时重复开发的风险。
综合系统可解决多行业测试问题。它是通过结合模块化硬件和软件组件以生成一个强大的新测试仪器系列来实现的，从而具有比传统的单机单测量功能堆架式测试仪器明显的优势。借助综合系统架构有可能利用多个并行路径将测试时间/吞吐量分别缩短/增加到传统堆架式方案的4~10倍。
综合测试系统的关键优势包括：
1. 降低了单位测试成本；
2. 缩短了测试时间、提升了效率；
3. 减少了测试设备需求和测试配置；
4. 测量速度更快、结果更准确；
5. 简化了系统级校准工作；
6. 减少了资金投入，降低了维护和保有成本；
7. 减少了升级和陈旧处理问题；
8. 具备满足下一代测量算法开发所需的平台；
9. 独立于平台和系统的再利用模式；
10. 从系统硬件和软件配置中析取测试应用和测量软件。
综合系统可减少升级及产品陈旧问题。硬件、系统软件、应用和测量功能架构模块可按需完全或单独替换。此举降低了升级费用和系统集成风险，这两个问题可对测试应用配置带来消极影响。
综合系统解决了当校准和功能测试循环被直接编程进系统功能模块时引发的再校准问题。它允许连续地实时运行校准程序。因此，它省去了重新校准一个给定系统经常所需预先计划的停机时间。另外，连续的嵌入式校准能力还加强了测试系统的总体完整性。
