使用脉冲I-V测试技术表征射频器件(二)
本文上一部分介绍了脉冲式I-V测试在测试技术和仪器功能方面具有的特定要求，下面继续讨论测试系统的其它问题和应对方法。
图5给出了脉冲I-Vq点测试的简化框图，它包含了在直流测试时独立偏置栅极和漏极的SMU。同样的，独立式脉冲发生器向DUT提供VG和VD脉冲激励。SMU和脉冲发生器之间通过板载开关连接或断开信号路径。这个框图中的开关正处于待机状态(开关打开着)，测试设备与DUT是断开连接的。在脉冲式I-V测试期间，SMU没有被连接到被测器件上。一般用于漏极的脉冲发生器能比用于栅极的脉冲发生器提供更高的功率。虽然在图中显示为独立的模块，但在实际测试系统中两个示波器通道是由单个单元提供的，允许独立测量DUT栅极信号和漏极响应。
在该系统中，栅极脉冲源具有50Ω的输出阻抗，而漏极脉冲发生器具有55Ω的阻抗。后者是由于增加了5Ω的敏感电阻(用蓝色圈出来)用于获得漏极电流和电压。测量敏感电阻上电压以捕获电流的技术使用了一个简单的分流电路，该电路具有很高的带宽，而且实现越来非常简便。5Ω电阻上的电压Vsense在示波器模块的第2通道上测量。
上述分流方法确实在某些方面做了一些牺牲，主要是漏极电压的降低。这通常被称为负载线效应，是使用敏感电阻测量漏电流的直接后果。漏极电流流过时，电阻Rsense上会有一个压降。压降意味着电压V}不等于漏极引脚上的电压VD'。如果不考虑这个压降，那么系列曲线就限于Rsense的负载线，如图6的右图所示。
幸运的，负载线补偿(LLC)算法可以纠正这一效应。除了提供理想的测试电压范围外，LLC算法还能在扫描期间提供均匀间距或步距的电压。这样可以取得完成的VD-ID器件表征。这还意味着用于确定VD值“在网格上”的被测数据后处理工作可以被取消，从而减少从测量系统取得测试结果到建模软件所需的时间。
在所有脉冲式I-V测量系统中都应认真考虑电缆和互连因素，因为电缆会引入传播延时并降低测量精度。为了用脉冲式I-V测试系统取得高的测量精度，电缆和互连阻抗必须加以确定和校准。这就需要用一个电缆补偿例程来测量和校正这些属性。例如在Keithley 4200-SCS PIV系统中就有一个在初始化设置以及任何电缆或其它互连改变后使用的简短程序。因为例程中包含了一个彻底或简短的测试，因此即使引脚到焊盘阻抗也集成进了补偿过程。
测试射频晶体管遇到的另一个问题是振荡电位。这些问题是由于器件的高截止频率(远大于1GHz)以及内部(器件)和外部(仪器)反馈路径产生的内在不稳定性引起的。这些状况会由于测试环境不能完全匹配产品环境而恶化。通常测试要求参数范围比产品应用中的更宽。
