如何构建通用电子产品功能测试平台
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如何构建通用电子产品功能测试平台  2012/3/1
本文分析当前电子产品测试中普遍存在的问题,提出一套通用电子产品功能测试平台,利用COM技术实现基于TestStand引擎开发测试系统的流程编辑和执行功能,并结合国际上通用的ATLAS测试语言和IVI规范分别进行测试流程和仪器驱动的管理。近年来,测试平台在多个项目中得到了实际应用,其中资源共享优势已经得到了客户们的充分认可。纵观国内外的电子产品测试系统,普遍存在以下几点问题:1)整个大系统的测试任务中,其统一性与整体性缺

本文分析当前电子产品测试中普遍存在的问题,提出一套通用电子产品功能测试平台,利用COM技术实现基于TestStand引擎开发测试系统的流程编辑和执行功能,并结合国际上通用的ATLAS测试语言和IVI规范分别进行测试流程和仪器驱动的管理。近年来,测试平台在多个项目中得到了实际应用,其中资源共享优势已经得到了客户们的充分认可。

纵观国内外的电子产品测试系统,普遍存在以下几点问题:

1)整个大系统的测试任务中,其统一性与整体性缺乏体系支持;

2)测试工艺、流程、标准不统一;

3)测试模块的通用性、可移植性、可扩展性、可维护性较差;

4)测试人员问的素质不一;

5)不同人员测试不同阶段,信息交流的程度不同;

6)测试数据的组织、存储、管理和使用较为混乱,数字化程度较低;

7)数据的有效性、可靠性、可追溯性、共享度以及对数据的分析能力较差;

8)数据对于产生、审批、发布、变更、流通的支持度不够;

9)生产效率偏低,导致单位生产成本较高。

以上问题的出现,会降低电子产品的研制效率,导致项目进度不可控,产品质量保证难度加大。

新一代电子产品测试系统会朝着通用化、标准化、组合化、网络化的方向进行发展。

结合现代自动测试技术的发展,现代电子产品测试系统的测试技术必将产生深刻的变革,这主要表现在四个方面:

1)测试整体上,要求C3M一体化。C3M指的是控制(Control)、通信(Communication)、计算机(Computer)和测量(Measurement);

2)测试平台上,采用虚拟仪器技术;

3)测试管理上,运用网络化技术;

4)测试信息处理上,采用智能传感器信息处理和多传感器信息融合技术。

自动化测试系统(ATS,Automatic Test System)确保电子产品设计合理,节约生产调试成本.提高产品的自我保障能力,使整个产品处于最佳工作状态,这极为重要。测试仪器的可互换性 (IVI,Interchangeable Virtual Instru-ment)和测试程序集(TPS,Test Program Set)的重用性、可移植性是通用ATS的重要指标。当前ATS的开发方式有面向仪器和面向信号两种。面向仪器的TPS开发基于测试仪器,很难从本质上反映被测设备的测试需求,加上测试仪器种类繁多且功能各异,因此,很难实现仪器的互换。软件平台的通用性较差。面向信号的开发方式基于被测对象 (UUT,Unit Under Test)的测试需求和测试资源的测试/激励能力,解决了需求与供应之间的矛盾,通用性较强。应用在ATS中的软件技术经历了过程编程语言(如C)、 Windows DLL、面向对象编程、组件对象模型(COM)的漫长发展过程。COM采用面向对象的软件设计思想。以标准接口提供功能调用,实现了程序的模块化、通用性设计。TestStand是测试领域广泛使用的流程测试项目管理平台,利用COM技术实现基于TestStand引擎开发ATS中的测试流程编辑和执行功能,结合国际上通用的ATLAS测试语言和IVI规范分别进行测试流程和仪器驱动的管理。另外,在充分考虑当前电子产品测试存在问题的基础上,结合新一代电子产品测试系统的发展特点,我们开发了电子产品功能测试软件平台(Electronic Test Platform,以下简称ETP),从而为构建通用电子产品功能测试平台提供了很好的解决方案。图1为通用电子产品功能测试系统原理图。

                              
ATLAS的特性

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