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二极管阵列检测器,二极管阵列检测器的分类,二极管阵列检测器参数指标等  2011/10/3

目录

  • 二极管阵列检测器的基本原理
  • 二极管阵列检测器的主要参数
  • 二极管阵列检测器的场地要求
  • 二极管阵列检测器的常见故障及排除
二极管阵列检测器

二极管阵列检测器的基本原理

  •   对于有光谱吸收的样品,吸收信号的强度随波长而变化,只有在其有最大吸收的波长进行检测才可能获得最大检测灵敏度,因此只有仪器具有优良的波长准确性和重现性才能使色谱分析结果稳定可靠。传统的采用双光路凹面全息光栅单色仪、机械装置调节波长的紫外可见检测器的光学系统比较复杂,在进行波长选择和调节的过程中易导致波长准确性和重复性变化,增加不确定性。与传统的紫外检测其不同,二极管阵列检测器的光学系统是由光源发出的光聚焦后首先通过检测池,然后由分光光栅进行分光,最后由光检测元件进行检测。

二极管阵列检测器的主要参数

  •   波长范围 199-618 nm(512阵列)/190nm-1024nm(1024阵列)

      波长准确度 ± 0.5 nm

      阵列数 512/1024

      光源 氘灯+钨灯

      光谱分辨率 每阵列单元1.2nm

      阵列分辨率 每阵列单元0.8nm

      波长准确性 ±0.5nm

      波长重复性 ±0.1nm

      线性范围 ≥1.5AU(5%)

      基线噪声 ±3.0 X 10-5 AU,(空池,254 nm,1.0s)

      基线漂移 ≤ 1.0 X 10-3 AU/h, (254nm,检测池充满干燥的氮气,仪器预热60分钟)

      响应时间 0.0-9.9秒(步长0.1秒)

      检测池 分析池 光程:10mm,体积:10μL

      半制备池 光程:3mm,体积:5μL

      微量池 光程:3mm,体积:1.2μL

      电源 220V,50Hz

二极管阵列检测器的场地要求

二极管阵列检测器的常见故障及排除

  •   超时

      超出超时阈值。

      可能原因

      1 分析已经成功完成,而且超时功能已经按要求关闭部件。

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