涂层测厚仪,涂层测厚仪的分类,涂层测厚仪参数指标等
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涂层测厚仪,涂层测厚仪的分类,涂层测厚仪参数指标等  2011/10/3

目录

  • 涂层测厚仪标准
  • 涂层测厚仪技术参数
  • 涂层测厚仪功能特点
  • 涂层测厚仪基本配置
  • 涂层测厚仪可选附件
涂层测厚仪

涂层测厚仪标准

  •   符合以下标准: GB/T 4956─1985 磁性方法

      JJG 818-95 《磁阻法测厚仪》

      JB/T8393-1996磁性和涡流覆层测厚仪

涂层测厚仪技术参数

  •   测头类型:F

      测量原理:磁感应

      测量范围: 0-1250um

      低限分辨力:1?m(10um以下为0.1um)

      示值误差:

      一点校准(um):±[3[%]H+1]

      两点校准(um):±[(1[%]~3[%])H+1]

      测量条件:

      最小曲率半径(mm):凸1.5 | 凹9

      基体最小面积的直径(mm):ф7

      最小临界厚度(mm):0.5

      温湿度:0~40℃ | 20[%]RH~90[%]RH

      统计功能:平均值、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差

      工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)

      测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)

      存储能力:300个测量值

      关机方式:手动和自动

      电源:二节1.5V电池

      外形尺寸:50×120×25mm

      重量:150g

涂层测厚仪功能特点

  •   采用了磁性测厚方法,可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上

      非磁性覆盖层的厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)

      可进行零点校准及二点校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正

      具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)

      具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)

      具有删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据

      设有五个统计量:平均值、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差

      具有米、英制转换功能

      具有欠压指示功能

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