罗德与施瓦茨-先进的射频微波测量技术
罗德与施瓦茨公司（以下简称R&S）将参加2009年8月27日至29日在成都世纪城新国际会展中心举办的“中国(成都)电子展暨第十二届国际电子测试与测量专业研讨会”。R&S公司将在电子展现场展示主题为“ 罗德与施瓦茨-先进的射频微波测量技术“的相关仪器和解决方案，并做“R&S先进的混频器测量技术”为主题演讲，内容涉及R&S先进的混频器测量技术，矢量网络分析仪扩展单元ZVAX的应用，以及信号源综合分析的高端技术。
R&S先进的混频器测量技术
全面展示R&S公司高级矢量网络分析仪ZVA（4端口）在混频器测试应用和具体测量方案。现场演示包括：混频器标量测试技术，混频器矢量测试技术，内置本振混频器群延时测量技术（R&S 专利）等应用。
矢量网络分析仪扩展单元ZVAX的应用
ZVAX是为矢量网络分析仪ZVA系列而推出的应用扩展单元。提供脉冲宽度低至12.5 ns的脉冲S参数测量功能;谐波抑制80 dBc的谐波测量应用;三阶交调测量动态范围90 dB（内置合路器）；最大测试功率43 dBm。
信号源综合分析的高端技术
信号源分析仪R&S FSUP是相位噪声分析、信号分析与高端频谱分析的完美结合。现场展示利用R&S FSUP的各类相位噪声测量功能，剩余(叠加)相位噪声测试，AM噪声测试，VCO测试应用，矢量信号分析等各种测试与应用。
敬请光临R&S公司展台：成都世纪城新国际会展中心，C22,C23展位:
并聆听“R&S先进的混频器测量技术”主题演讲:
时间：2009年8月27日上午11:10-11:40
地点：成都世纪城新国际会展中心4-5连接馆2F(1号会议室)
演讲内容：混频器标量测试技术，混频器矢量测试技术，内置本振混频器群延时测量技术（R&S 专利）等
