
1、系统软件直接提供CIE标准的光学检测指标
2、透射式余弦校正器,适合不同类型光源检测表征
3、TE致冷CCD光谱仪,优异的稳定性表现
4、经NIST溯源的标准灯校正,检测结果权威可靠
|
光学参数 | |
|
光谱范围 |
380-750nm |
|
光谱分辨率(FWHM) |
<1.5nm |
|
照度范围 |
25 nW/cm2/nm – 4mW/cm2/nm |
|
Electrical | |
|
检测器类型 |
响应增强的2048像元硅基CCD阵列 |
|
外触发 |
包含触发端口 |
|
计算机接口 |
USB2.0/1.1 |
|
数据传输速度 |
最高180谱/秒,USB 2.0 |
|
电源输入 |
5V DC, <1.5A |
|
软件 | |
|
积分时间 |
5ms-65535ms,乘法器 |
|
操作系统 |
Windows XP,Windows Vista,Windows 7 |
|
环境 | |
|
操作温度 |
15-35℃ |
|
相对湿度 |
85%,无冷凝
与《辐照度光谱仪,辐照度光谱仪的分类,辐照度光谱仪参数指标等》相关列表
Copyright(C) 2011-2021 Szcwdz.com 创唯电子 版权所有 备案号:粤ICP备11103613号
专注电子元件代理销售 QQ:800152669 电子邮件:sales@szcwdz.com 电话:400-900-3095 |