CCD平面度测试仪 ,CCD平面度测试仪 的分类,CCD平面度测试仪 参数指标等
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CCD平面度测试仪 ,CCD平面度测试仪 的分类,CCD平面度测试仪 参数指标等  2011/10/3

目录

  • CCD平面度测试仪的特点
  • CCD平面度测试仪的技术规格
  • CCD平面度测试仪的功能
CCD平面度测试仪

CCD平面度测试仪的特点

  •   检测精度达到0.01mm以上;

      可选择局部扫描功能,提高检测速度;

      操作界面清晰明了,简单易行,只需简单设定即可自动执行检测;

      检测软件及算法完全自主开发,采用亚像素技术实现超高的检测精度;

      可灵活设置模板查找、平均灰度值检测等多种检测算法;

      专业化光源设计,成像清晰均匀,确保不形成光斑;

      支持多种IC产品的检测、具备产品在线自动搜索等功能;

      安装简单,不影响原生产线工作;结构紧凑,易于操作、维护和扩充;

      可靠性高,运行稳定,适合各种现场运行条件。

      基于PC平台,系统可扩充性强,基于EF-VS机器视觉软件平台可扩展管脚测量等功能,也可外接SPC软件。

CCD平面度测试仪的技术规格

  •   可以直接电视机或电脑上观察实物图像。

      1.物镜变倍范围: 0.7--4.5X

      2.变倍比: 6.5:1

      3.移动工作距离: 200mm

      4.台面尺寸: 390×160(mm)

      5.总放大倍数: 7—450X (以21寸电视机,2X倍的大物镜为例)

CCD平面度测试仪的功能

  •   检测芯片针脚的个数;

      可测量芯片针脚的多个位置的几何尺寸,包括pitch间隔、宽度、高度等;

      检测针脚的共线度等平面度指标;

      系统检测到质量问题时,能发出报警信号,并输出控制信号;

      可对检查出的所有废品对应的图像能够存储和查看;

      系统有自学习功能,且学习过程操作简单;

      系统可通过RS232接口或以太网接收上位机控制信号。

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