
动态随机存取存储器是一种使用场效应管栅极、电容作储存元件的MOS存储器,输入数据以动态形式予以存储。DRAM只能将数据保持很短的时间,为了保持数据,DRAM必须隔一段时间刷新(refresh)一次。如果存储单元没有被刷新,数据就会丢失。
最初,DRAM多使用于关键的存储器中。由于在现实中电容会有漏电的现象,导致电位差不足而使记忆消失,因此除非电容经常周期性地充电,否则无法确保记忆长存。由于这种需要定时刷新的特性,因此被称为“动态”存储器。
与SRAM相比,DRAM的优势在于结构简单——每一个位的数据都只需一个电容跟一个晶体管来处理,相比之下在SRAM上一个位通常需要六个晶体管。因此,DRAM拥有非常高的密度,单位体积的容量较高,所以成本较低。但相反的,DRAM也有访问速度较慢,耗电量较大的缺点。
与大部分的随机存取存储器(RAM)一样,由于存在DRAM中的数据会在电力切断以后立刻消失,因此它属于一种易失性存储器(volatile memory)设备。
动态存储单元是由MOS管的栅极电容C和门控管组成的,利用场效应管的栅极对其衬底间的分布电容来保存信息,以存储电荷的多少,即电容端电压的高低来表示“1”和“0”。数据以电荷的形式存储在栅极电容上,电容上的电压高表示存储数据1;电容没有储存电荷,电压为0,表明存储数据0。因存在漏电,使电容存储的信息不能长久保持,为防止信息丢失,就必须定时地给电容补充电荷,这种操作称为“刷新”。