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石英晶体膜厚控制仪,石英晶体膜厚控制仪的分类,石英晶体膜厚控制仪参数指标等  2011/10/3

目录

  • 石英晶体膜厚控制仪的特点
  • 石英晶体膜厚控制仪的参数
  • 石英晶体膜厚控制仪的用途
石英晶体膜厚控制仪

石英晶体膜厚控制仪的特点

  •   1、标准RS-232和USB(有以太网选件)。

      2、贮存容量高至100个工艺过程,1,000个膜层,50个膜系。

      3、用单传感器或多传感器监测源材料,提供精确的源分布监测。

      4、高亮度,VGA活性点阵彩色LCD显示器–可显示英文或中文。

      5、易设置和操作,有“快速设置”菜单,6个上下文-敏感的按钮,和方便的参数设定旋钮。

      6、Window程序用于开发,测试,和下载工艺过程,和将仪器数据记录至您的PC上,用于过程分析与质量控制。

      7、精确的过程控制,尤其用于低淀积率,在10读值/秒时的分辨率为±0.03Hz,在0至50°C温度范围内的频率稳定性为±2ppm。

石英晶体膜厚控制仪的参数

  •   ◆ 频率分辨率:在6.0 MHz时0.03 Hz

      ◆ 质量分辨率:0.375 ng/cm2

      ◆ 感应晶片频率:2.5, 3, 5, 6, 9.5, 10 MHz

      ◆ 膜厚显示:0.000~ 999.9 KÅ

      ◆ 成膜速率:00.0~999 Ang/sec (0~9.99μm/min)

      ◆ 膜层数量:1~999

      ◆ 图形显示:256×64 LCD ,CCFL背景照明

      ◆ 全套配置

      ◆ MDC360C主机 一台、振荡器及电缆线 一套、探头 一个、晶片 5片

      ◆ 主机尺寸:16.98×3.47×9.355(单位:英寸)、前面板宽度18.98英寸

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